GEN3离子污染度测试仪

电子産品,材料(如PCB,元件等)在制程中会被环境,辅料中化学杂质所污染, 这些杂质中会带有电离子成份，这些离子残留在産品将会影响産品的可靠性。在潮湿的环境里，与産品通电运作情況下,离子污染物将会有所变化, 电离子會按电极性在载体中迁移(又名Electro-Migration)与电极体(元件引脚, PCB上的导线⋯等)本身进行化学作用, 引致电极体腐蚀,又或与其他份子结合从电极体生出金属丝( Dendrite )***让两极相通”短路”,降低了两极间绝缘抗阻( SIR ), ***让産品不能正常运作, 严重的更會破坏电子产品
所以监察离子污染的程度, 或清洁度來肯定产品的可靠性是非常重要的, 业界中离子污染度测试方法为ROSE/SEC, 电路板或零件浸入特定比例的异丙醇( IPA )与无离子水( De-Ionised Water)的混合测试溶济中, 让污染物溶解, 溶解的污染物会改变溶济的导电性，这改变将会被测量，然后再转换成污染度单位( Eq. μg/sq.cm NaCl )作记录, 判断
CM系列清洁度测试仪在电子业上有很多用途：测试电路板（ PCB ）在制造流程或成品的清洁度、亦可方便用於PCBA生产流程中产品的清洁度, 检查来料清洁度，及可评估不同焊接材料,条件对成品清洁度的影响。

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